Испытания проводились на образце из сапфира толщиной 0,42 мм. Метод измерения теплопроводности тонких плёнок, используемых в системах охлаждения микроэлектроники, развили и усовершенствовали учёные Национально-исследовательского центра «Курчатовский институт». Об этом сообщила...