Физики из Университета Осаки предложили новый метод измерения температуры электронных компонентов с помощью нейтронов. Исследование опубликовано в ведущем научном журнале. Для обеспечения надежной работы электроники, от телефонов до батарей, инженерам необходимо точно измерять температуру внутри устройств. Существующие методы оценки температуры не всегда дают быстрые и точные результаты.
Японские ученые предложили использовать нейтронный резонансный захват (НРЗ) для измерения температуры. Этот метод позволяет анализировать свойства материала, изучая поглощение нейтронов атомными ядрами на определенных энергетических уровнях.
В исследовании нейтроны генерировались мощными лазерными установками. Затем их замедляли до очень низких энергий и пропускали через образцы материалов — пластины из тантала и серебра. Метод успешно определил состав материалов и их температуру с невероятной скоростью.
Изменение временного сигнала НРЗ позволило ученым определить температуру образцов. Новая технология обеспечивает мгновенное и точное измерение температуры, поскольку метод неразрушающий, его можно применять для мониторинга аккумуляторов, полупроводников и других электронных устройств, отмечают ученые.
Благодаря использованию одиночного импульса нейтронов, измерение температуры методом НРЗ занимает всего 100 наносекунд (. Эта почти мгновенная скорость позволяет отслеживать изменения температуры практически в режиме реального времени, обеспечивая детальный анализ.
