Ученые из Университета Хьюстона разработали новый метод измерения температуры с помощью спектроскопии ближнего инфракрасного диапазона. Он позволяет более точно определять температуру объектов по сравнению с традиционными тепловизорами.
Существующие тепловизоры работают на основе измерения инфракрасного излучения, которое испускают нагретые объекты. Однако точность таких устройств зависит от эмиссионной способности материала, которая может изменяться в зависимости от температуры. Новый метод позволяет устранить эту проблему.
Спектроскоп измеряет спектр излучения объекта и сравнивает его с идеальным спектром абсолютно черного тела. Это позволяет определить температуру с высокой точностью, независимо от свойств материала.
Новая технология может быть использована в различных областях, включая медицину, строительство, промышленность и безопасность. Она позволит более точно диагностировать заболевания, выявлять теплопотери в зданиях, обнаруживать скрытые объекты и контролировать технологические процессы.
